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射流式高低温冲击测试机/热流仪

射流式高低温冲击测试机/热流仪

未分类 665

无锡冠亚恒温制冷(LNEYA)的液体温度控制技术,主要用于半导体测试中的温度测试模拟,具有宽温度定向和高温升降,温度范围-85℃~250℃,适合各种测试要求。LNEYA积极探索和研究元件测试系统,致力于解决电子元器件中温度控制滞后的问题,冷却技术可直接从300℃进行冷却。该产品适用于电子元器件的jing确温度控制需求。
在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其它环境测试模拟。

射流式高低温冲击测试机/热流仪-冠亚恒温

应用行业

射流式高低温冲击测试机/热流仪-冠亚恒温

广泛应用于:芯片,微电子器件,集成电路、闪存Flash、传感器、 小型模块组件光通讯、航空航天新材料等

性能分析、高低温温变测试、 温度冲击测试、失效分析等可靠性试验;

射流式高低温冲击测试机/热流仪-冠亚恒温

温度范围,-115°C~+225°C;控温精度:±0.5°C; 升降温速率快,150°C~-55°C<10秒

压缩机制冷,无需液氮或其他消耗性制冷剂。7英寸彩色触摸屏,温度曲线显示\EXCEL数据导出;

实时监控被测IC真实温度,实现闭环反馈,实时调整气体温度;

升降温时间可控,程序化操作、手动操作、远程控制;

测试条件:环境温度20°C,30m³/h,5Bar,压缩空气或氮气; 多工况验证,满足环境要求;

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